学术探索
学术期刊
学术作者
新闻热点
数据分析
智能评审
電荷ストリッピング機構を用いたイオン注入システムにおける金属汚染制御のための装置および方法[ja]
被引:0
申请号
:
JP20220545121
申请日
:
2021-02-08
公开(公告)号
:
JP2023514089A
公开(公告)日
:
2023-04-05
发明(设计)人
:
申请人
:
申请人地址
:
IPC主分类号
:
H01J37/317
IPC分类号
:
H01J37/147
H01J37/248
代理机构
:
代理人
:
法律状态
:
国省代码
:
引用
下载
收藏
法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
共 4 条
[1]
プラズマ電解酸化コーティングにおける銅または微量金属汚染物質の低減[ja]
[P].
日本专利
:JP5738987B2
,2015-06-24
[2]
導電性ダイヤモンド電極で微量金属を検出するための装置および方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6861255B2
,2021-04-21
[3]
導電性ダイヤモンド電極で微量金属を検出するための装置および方法[ja]
[P].
日本专利
:JP2018529981A
,2018-10-11
[4]
導電性ダイヤモンド電極で微量金属を検出するための装置および方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6827047B2
,2021-02-10
←
1
→