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二次元フリッカ測定装置、二次元フリッカ測定システム、二次元フリッカ測定方法、及び、二次元フリッカ測定プログラム[ja]
被引:0
申请号
:
JP20190546596
申请日
:
2018-09-10
公开(公告)号
:
JP7207319B2
公开(公告)日
:
2023-01-18
发明(设计)人
:
申请人
:
申请人地址
:
IPC主分类号
:
G01J1/44
IPC分类号
:
G01J1/42
G01M11/00
G02F1/13
G09F9/00
代理机构
:
代理人
:
法律状态
:
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
共 50 条
[1]
二次元フリッカ測定装置、二次元フリッカ測定システム、二次元フリッカ測定方法、及び、二次元フリッカ測定プログラム[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2019069634A1
,2020-12-03
[2]
二次元フリッカ測定装置、二次元フリッカ測定方法、および、二次元フリッカ測定プログラム[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2020054209A1
,2021-09-30
[3]
二次元フリッカ測定装置、二次元フリッカ測定方法、および、二次元フリッカ測定プログラム[ja]
[P].
日本专利
:JP7189515B2
,2022-12-14
[4]
二次元フリッカ測定装置及び二次元フリッカ測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2019069633A1
,2020-12-17
[5]
二次元フリッカ測定装置及び二次元フリッカ測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP7310606B2
,2023-07-19
[6]
二次元測定機および二次元測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2010113756A1
,2012-10-11
[7]
二次元測色装置、二次元測色システム及び二次元測色方法[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2017145994A1
,2018-12-20
[8]
二次元測色装置、二次元測色システム及び二次元測色方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6816753B2
,2021-01-20
[9]
二次元測色装置及び二次元測色方法[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2017038675A1
,2018-06-14
[10]
二次元測色装置及び二次元測色方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6915539B2
,2021-08-04
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