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誤り率測定装置および誤り率測定方法[ja]
被引:0
申请号
:
JP20190017995
申请日
:
2019-02-04
公开(公告)号
:
JP6843902B2
公开(公告)日
:
2021-03-17
发明(设计)人
:
申请人
:
申请人地址
:
IPC主分类号
:
H04L69/40
IPC分类号
:
H04L1/00
代理机构
:
代理人
:
法律状态
:
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
共 50 条
[1]
誤り率測定装置および誤り率測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP7520081B2
,2024-07-22
[2]
誤り率測定装置および誤り率測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6651432B2
,2020-02-19
[3]
誤り率測定装置および誤り率測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6836569B2
,2021-03-03
[4]
誤り率測定装置および誤り率測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6836610B2
,2021-03-03
[5]
誤り率測定装置および誤り率測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP7231589B2
,2023-03-01
[6]
誤り率測定装置および誤り率測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP7579312B2
,2024-11-07
[7]
誤り率測定装置および誤り率測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6827484B2
,2021-02-10
[8]
誤り率測定装置および誤り率測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP7520080B2
,2024-07-22
[9]
誤り率測定装置および誤り率測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP7381519B2
,2023-11-15
[10]
誤り率測定装置及び誤り率測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6818056B2
,2021-01-20
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