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皮膜厚さ測定方法および皮膜厚さ測定装置[ja]
被引:0
申请号
:
JP20150092012
申请日
:
2015-04-28
公开(公告)号
:
JP6426529B2
公开(公告)日
:
2018-11-21
发明(设计)人
:
申请人
:
申请人地址
:
IPC主分类号
:
G01B7/06
IPC分类号
:
G01N27/00
G21C17/003
代理机构
:
代理人
:
法律状态
:
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
共 50 条
[1]
厚さ測定装置および厚さ測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6484196B2
,2019-03-13
[2]
厚さ測定装置及び厚さ測定方法[ja]
[P].
TOKIOKA YOSHINORI
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
TLV CO LTD
TLV CO LTD
TOKIOKA YOSHINORI
.
日本专利
:JP2025044618A
,2025-04-02
[3]
厚さ測定装置及び厚さ測定方法[ja]
[P].
TOKIOKA YOSHINORI
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
TLV CO LTD
TLV CO LTD
TOKIOKA YOSHINORI
.
日本专利
:JP2024088585A
,2024-07-02
[4]
厚さ測定装置及び厚さ測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6788511B2
,2020-11-25
[5]
厚さ測定方法及び厚さ測定装置[ja]
[P].
日本专利
:JP7252584B1
,2023-04-05
[6]
厚さ測定装置、及び厚さ測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP5833831B2
,2015-12-16
[7]
厚さ測定装置及び厚さ測定方法[ja]
[P].
TOKIOKA YOSHINORI
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
TLV CO LTD
TLV CO LTD
TOKIOKA YOSHINORI
.
日本专利
:JP2025033402A
,2025-03-13
[8]
厚さ測定装置及び厚さ測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP7723410B2
,2025-08-14
[9]
厚さ測定装置及び厚さ測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP5942494B2
,2016-06-29
[10]
厚さ測定装置、制御装置および厚さ測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6324642B1
,2018-05-16
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