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スランプ測定機及びスランプ測定方法[ja]
被引:0
申请号
:
JP20190105776
申请日
:
2019-06-06
公开(公告)号
:
JP7252064B2
公开(公告)日
:
2023-04-04
发明(设计)人
:
申请人
:
申请人地址
:
IPC主分类号
:
G01N11/00
IPC分类号
:
G01N11/14
代理机构
:
代理人
:
法律状态
:
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
共 50 条
[1]
測定システム、測定方法、及び測定プログラム[ja]
[P].
日本专利
:JP7583685B2
,2024-11-14
[2]
測定システム、測定方法、及び測定プログラム[ja]
[P].
日本专利
:JP7311225B2
,2023-07-19
[3]
測定システム、測定方法、及び測定プログラム[ja]
[P].
日本专利
:JP7639979B1
,2025-03-05
[4]
測定システム、測定方法及び測定プログラム[ja]
[P].
日本专利
:JP6651480B2
,2020-02-19
[5]
測定システム、測定方法、測定プログラム[ja]
[P].
日本专利
:JP7767785B2
,2025-11-12
[6]
測定装置、測定方法、測定プログラム及び測定システム[ja]
[P].
日本专利
:JP2023073482A
,2023-05-25
[7]
スイング測定装置、スイング測定方法およびスイング測定プログラム[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2019012721A1
,2020-05-21
[8]
測定装置、測定方法、測定プログラム及び測定システム[ja]
[P].
日本专利
:JP7485141B2
,2024-05-16
[9]
スイング測定装置、スイング測定方法およびスイング測定プログラム[ja]
[P].
日本专利
:JP7054014B2
,2022-04-13
[10]
測定システム、測定方法、及びプログラム[ja]
[P].
日本专利
:JP7498842B1
,2024-06-12
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