微粒子組成分析方法及び微粒子組成分析装置[ja]

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申请号
JP20120505454
申请日
2010-12-06
公开(公告)号
JP5659351B2
公开(公告)日
2015-01-28
发明(设计)人
申请人
申请人地址
IPC主分类号
G01N1/02
IPC分类号
G01N27/62
代理机构
代理人
法律状态
国省代码
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共 50 条
[1]
微粒子組成分析方法及び微粒子組成分析装置[ja] [P]. 
日本专利 :JPWO2011114587A1 ,2013-06-27
[2]
微粒子組成分析装置[ja] [P]. 
日本专利 :JP6651753B2 ,2020-02-19
[3]
微粒子の分析装置及び微粒子の分析方法[ja] [P]. 
日本专利 :JP6753309B2 ,2020-09-09
[4]
微粒子组成分析装置 [P]. 
武田直希 ;
小泉和裕 ;
浅野贵正 ;
长谷川祥树 .
中国专利 :CN106525673B ,2017-03-22
[5]
微粒子分析装置[ja] [P]. 
日本专利 :JP6002061B2 ,2016-10-05
[8]
微粒子分析方法[ja] [P]. 
日本专利 :JP6519017B2 ,2019-05-29
[9]
微粒子分析方法[ja] [P]. 
日本专利 :JP6790691B2 ,2020-11-25