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光学特性測定装置及び光学特性測定方法[ja]
被引:0
申请号
:
JP20130502369
申请日
:
2012-02-28
公开(公告)号
:
JP5721195B2
公开(公告)日
:
2015-05-20
发明(设计)人
:
申请人
:
申请人地址
:
IPC主分类号
:
G01N21/23
IPC分类号
:
G01N21/27
代理机构
:
代理人
:
法律状态
:
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
共 50 条
[1]
光学特性測定装置及び光学特性測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP7632472B2
,2025-02-19
[2]
光学特性測定装置及び光学特性測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP5939678B2
,2016-06-22
[3]
光学特性測定装置及び光学特性測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2018034343A1
,2019-06-20
[4]
光学特性測定装置及び光学特性測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6101176B2
,2017-03-22
[5]
光学特性測定装置及び光学特性測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6853584B2
,2021-03-31
[6]
光学特性測定装置及び光学特性測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2012118079A1
,2014-07-07
[7]
光学特性の測定方法及び光学特性の測定装置[ja]
[P].
日本专利
:JP6273504B2
,2018-02-07
[8]
光学特性測定方法および光学特性測定装置[ja]
[P].
日本专利
:JP7536238B2
,2024-08-20
[9]
光学特性測定装置および光学特性測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP5721586B2
,2015-05-20
[10]
光学特性測定装置および光学特性測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6678901B2
,2020-04-15
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