共 50 条
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測定用基材及びその製造方法、並びに発光分光分析装置及び発光分光分析方法[ja]
被引：0
申请号：
JP20190099115
申请日：
2019-05-28
公开(公告)号：
JP7280110B2
公开(公告)日：
2023-05-23
发明(设计)人：
申请人：
申请人地址：
IPC主分类号：
G01N21/63
IPC分类号：
代理机构：
代理人：
法律状态：
国省代码：
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法律状态
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