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測定方法及び試験装置[ja]
被引:0
申请号
:
JP20190150733
申请日
:
2019-08-20
公开(公告)号
:
JP7254002B2
公开(公告)日
:
2023-04-07
发明(设计)人
:
申请人
:
申请人地址
:
IPC主分类号
:
G01N3/20
IPC分类号
:
代理机构
:
代理人
:
法律状态
:
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
共 50 条
[1]
試験測定装置及び測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP5979829B2
,2016-08-31
[2]
試験測定装置及び測定方法[ja]
[P].
TAN KAN
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
TEKTRONIX INC
TEKTRONIX INC
TAN KAN
;
PICKERD JOHN J
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
TEKTRONIX INC
TEKTRONIX INC
PICKERD JOHN J
.
日本专利
:JP2024001002A
,2024-01-09
[3]
測定装置、測定方法、及び試験装置[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2005076021A1
,2007-10-11
[4]
試験測定装置及び被試験材料特性測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP7604119B2
,2024-12-23
[5]
試験装置、試験方法、測定装置、および、測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2009075091A1
,2011-04-28
[6]
測定装置、試験片、及び測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP5701337B2
,2015-04-15
[7]
試験片、測定装置、及び測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP5982022B2
,2016-08-31
[8]
試験測定機器及び視差測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6030297B2
,2016-11-24
[9]
測定装置、試験装置および測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2009022697A1
,2010-11-18
[10]
測定装置、測定方法、試験装置、試験方法、及び電子デバイス[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2007099878A1
,2009-07-16
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