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同位体痕跡を使用して、炭化水素根源の特徴を決定する方法[ja]
被引:0
申请号
:
JP20200511865
申请日
:
2018-05-04
公开(公告)号
:
JP6853416B2
公开(公告)日
:
2021-03-31
发明(设计)人
:
申请人
:
申请人地址
:
IPC主分类号
:
G01N33/24
IPC分类号
:
G01V5/00
代理机构
:
代理人
:
法律状态
:
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
共 50 条
[1]
同位体痕跡を使用して、炭化水素根源の特徴を決定する方法[ja]
[P].
日本专利
:JP2020522719A
,2020-07-30
[2]
放射性同位体の量を決定する方法[ja]
[P].
日本专利
:JP7213880B2
,2023-01-27
[3]
放射性同位体の量を決定する方法[ja]
[P].
日本专利
:JP2021508053A
,2021-02-25
[4]
自己出力検出器を使用して核同位体の活性を測定するための装置[ja]
[P].
日本专利
:JP2023521672A
,2023-05-25
[5]
自己出力検出器を使用して核同位体の活性を測定するための装置[ja]
[P].
日本专利
:JP7601896B2
,2024-12-17
[6]
水素同位体を濃縮する為の装置及び方法[ja]
[P].
日本专利
:JP2019526446A
,2019-09-19
[7]
水素同位体を濃縮する為の装置及び方法[ja]
[P].
日本专利
:JP7209623B2
,2023-01-20
[8]
炭化水素貯留層における炭化水素と水との接触位置を決定するための装置及び方法[ja]
[P].
日本专利
:JP2023551850A
,2023-12-13
[9]
水素同位体を含む水の分離方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6967255B2
,2021-11-17
[10]
水から酸素17同位体を分離する方法及びこれを利用した酸素17同位体の濃縮方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6925379B2
,2021-08-25
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