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質量分析データ処理装置、質量分析装置、質量分析データ処理方法、及び質量分析データ処理用プログラム[ja]
被引:0
申请号
:
JP20160124083
申请日
:
2016-06-23
公开(公告)号
:
JP6565801B2
公开(公告)日
:
2019-08-28
发明(设计)人
:
申请人
:
申请人地址
:
IPC主分类号
:
G01N27/62
IPC分类号
:
代理机构
:
代理人
:
法律状态
:
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
共 50 条
[1]
質量分析データ処理方法、質量分析データ処理装置、及び質量分析装置[ja]
[P].
日本专利
:JP5682540B2
,2015-03-11
[2]
質量分析方法、質量分析装置、及び質量分析データ処理プログラム[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2015079529A1
,2017-03-16
[3]
質量分析方法、質量分析装置、及び質量分析データ処理プログラム[ja]
[P].
日本专利
:JP6176334B2
,2017-08-09
[4]
質量分析データ処理方法及び質量分析装置[ja]
[P].
日本专利
:JP2025171379A
,2025-11-20
[5]
質量分析装置用データ処理装置[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2007132502A1
,2009-09-17
[6]
質量分析装置用データ処理装置[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2007135708A1
,2009-09-24
[7]
イメージング質量分析装置及び質量分析データ処理方法[ja]
[P].
日本专利
:JP5708400B2
,2015-04-30
[8]
質量分析データ処理方法及び該方法を用いた質量分析装置[ja]
[P].
日本专利
:JP6146211B2
,2017-06-14
[9]
クロマトグラフ質量分析データ処理方法、クロマトグラフ質量分析装置、及びクロマトグラフ質量分析データ処理用プログラム[ja]
[P].
日本专利
:JP7380866B2
,2023-11-15
[10]
クロマトグラフ質量分析データ処理方法、クロマトグラフ質量分析装置、及びクロマトグラフ質量分析データ処理用プログラム[ja]
[P].
日本专利
:JP7359302B2
,2023-10-11
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