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光量測定装置及び光量測定方法[ja]
被引:0
申请号
:
JP20130541899
申请日
:
2013-05-28
公开(公告)号
:
JPWO2014020978A1
公开(公告)日
:
2016-07-21
发明(设计)人
:
申请人
:
申请人地址
:
IPC主分类号
:
G01J1/00
IPC分类号
:
G01J1/06
G01M11/00
H01L21/66
H01L33/00
代理机构
:
代理人
:
法律状态
:
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
共 50 条
[1]
光量測定装置及び光量測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2014020768A1
,2016-07-11
[2]
光量測定装置及び光量測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6118801B2
,2017-04-19
[3]
全光量測定システム、全光量測定装置、および、全光量測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP5665324B2
,2015-02-04
[4]
所定部位発光量測定方法、所定部位発光量測定装置、発現量測定方法、および測定装置[ja]
[P].
日本专利
:JP5646538B2
,2014-12-24
[5]
所定部位発光量測定方法、所定部位発光量測定装置、発現量測定方法、および測定装置[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2006106882A1
,2008-09-11
[6]
光量分布測定装置、描画装置および光量分布測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6113064B2
,2017-04-12
[7]
光測定装置及び光測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6856559B2
,2021-04-07
[8]
光測定装置及び光測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2019098005A1
,2020-11-19
[9]
光測定装置及び光測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6188157B2
,2017-08-30
[10]
光測定装置及び光測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2005088280A1
,2008-01-31
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