共 50 条
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質量分析装置、質量分析方法、及びイオン源[ja]
被引：0
申请号：
JP20120220467
申请日：
2012-10-02
公开(公告)号：
JP6043568B2
公开(公告)日：
2016-12-14
发明(设计)人：
申请人：
申请人地址：
IPC主分类号：
H01J49/10
IPC分类号：
G01N27/62
H01J49/04
代理机构：
代理人：
法律状态：
国省代码：
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法律状态
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