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被分析物の検出および定量化のためのサンプル分析読取機およびシステム[ja]
被引:0
申请号
:
JP20170071952
申请日
:
2017-03-31
公开(公告)号
:
JP6420863B2
公开(公告)日
:
2018-11-07
发明(设计)人
:
申请人
:
申请人地址
:
IPC主分类号
:
G01N35/08
IPC分类号
:
G01N1/00
G01N37/00
H04M1/72409
H04M1/72412
代理机构
:
代理人
:
法律状态
:
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
共 50 条
[1]
被分析物の検出および定量化のためのシステムおよび方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6420309B2
,2018-11-07
[2]
被分析物の検出および定量化のためのシステムおよび方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6921047B2
,2021-08-18
[3]
被分析物の検出および定量化のためのシステムおよび方法[ja]
[P].
日本专利
:JP2016512332A
,2016-04-25
[4]
被分析物の検出および定量のためのシステムおよび方法[ja]
[P].
日本专利
:JP2017526934A
,2017-09-14
[5]
被分析物の検出および定量のためのシステム[ja]
[P].
日本专利
:JP6823589B2
,2021-02-03
[6]
被分析物監視のシステム、その装置、および、その方法[ja]
[P].
日本专利
:JP7713008B2
,2025-07-24
[7]
被分析物監視のシステム、その装置、および、その方法[ja]
[P].
日本专利
:JP2025148487A
,2025-10-07
[8]
被分析物監視のシステム、その装置、および、その方法[ja]
[P].
日本专利
:JP2023543155A
,2023-10-13
[9]
被分析物監視のシステム、その装置、および、その方法[ja]
[P].
日本专利
:JP2024502541A
,2024-01-22
[10]
被分析物の濃度を測定するためのシステムおよび方法[ja]
[P].
日本专利
:JP7579341B2
,2024-11-07
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