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光学センサ装置、測定システムおよび測定方法[ja]
被引:0
申请号
:
JP20220564727
申请日
:
2022-03-24
公开(公告)号
:
JP7278504B1
公开(公告)日
:
2023-05-19
发明(设计)人
:
申请人
:
申请人地址
:
IPC主分类号
:
G01N21/41
IPC分类号
:
G01D5/26
代理机构
:
代理人
:
法律状态
:
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
共 50 条
[1]
温度測定センサ、温度測定システム、および、温度測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP7066557B2
,2022-05-13
[2]
光学測定システムおよび光学測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6758736B1
,2020-09-23
[3]
光学測定方法および光学測定システム[ja]
[P].
日本专利
:JP2023070071A
,2023-05-18
[4]
光学測定システムおよび光学測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP7723988B2
,2025-08-15
[5]
光学測定システムおよび光学測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP7199093B2
,2023-01-05
[6]
光学測定方法および光学測定システム[ja]
[P].
日本专利
:JP7157505B1
,2022-10-20
[7]
光学測定方法および光学測定システム[ja]
[P].
日本专利
:JP7787576B2
,2025-12-17
[8]
センサ、センサシステム、および測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6459991B2
,2019-01-30
[9]
測定チップ、センサシステムおよび測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP5706300B2
,2015-04-22
[10]
バイオセンサ測定システム、および測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2008013224A1
,2009-12-17
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