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分光測定装置、及び分光測定方法[ja]
被引:0
申请号
:
JP20200523900
申请日
:
2018-06-06
公开(公告)号
:
JPWO2019234842A1
公开(公告)日
:
2021-05-13
发明(设计)人
:
申请人
:
申请人地址
:
IPC主分类号
:
G01N21/3581
IPC分类号
:
G02F1/39
代理机构
:
代理人
:
法律状态
:
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
共 50 条
[1]
分光測定装置、及び分光測定方法[ja]
[P].
CHANG KE-BONG
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
HITACHI HIGH TECH CORP
HITACHI HIGH TECH CORP
CHANG KE-BONG
;
HIROSE TAKESHI
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
HITACHI HIGH TECH CORP
HITACHI HIGH TECH CORP
HIROSE TAKESHI
.
日本专利
:JP2025098340A
,2025-07-02
[2]
分光測定装置及び分光測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6917824B2
,2021-08-11
[3]
分光測定装置、及び分光測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP7782868B2
,2025-12-09
[4]
分光測定装置、及び分光測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2016157676A1
,2018-01-25
[5]
分光測定装置、及び分光測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6679959B2
,2020-04-15
[6]
分光測定装置、及び分光測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6747672B2
,2020-08-26
[7]
分光測定装置及び分光測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP5944843B2
,2016-07-05
[8]
分光測定装置及び分光測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP7238541B2
,2023-03-14
[9]
分光測定装置及び分光測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP7283190B2
,2023-05-30
[10]
分光測定装置及び分光測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP7761378B2
,2025-10-28
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