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電子機器および座標検出方法[ja]
被引:0
申请号
:
JP20140080233
申请日
:
2014-04-09
公开(公告)号
:
JP5658838B1
公开(公告)日
:
2015-01-28
发明(设计)人
:
申请人
:
申请人地址
:
IPC主分类号
:
G06F3/041
IPC分类号
:
G06F3/044
G06F3/0488
H04M1/00
代理机构
:
代理人
:
法律状态
:
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
共 50 条
[1]
電子機器および座標検出方法[ja]
[P].
日本专利
:JP5616557B1
,2014-10-29
[2]
光検出装置及び電子機器[ja]
[P].
TODA ATSUSHI
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
SONY SEMICONDUCTOR SOLUTIONS CORP
SONY SEMICONDUCTOR SOLUTIONS CORP
TODA ATSUSHI
;
MORITA HIROKI
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
SONY SEMICONDUCTOR SOLUTIONS CORP
SONY SEMICONDUCTOR SOLUTIONS CORP
MORITA HIROKI
.
日本专利
:JP2024110240A
,2024-08-15
[3]
光検出装置及び電子機器[ja]
[P].
YAMAMOTO JUNPEI
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
SONY SEMICONDUCTOR SOLUTIONS CORP
SONY SEMICONDUCTOR SOLUTIONS CORP
YAMAMOTO JUNPEI
.
日本专利
:JP2025024416A
,2025-02-20
[4]
光検出装置及び電子機器[ja]
[P].
TANAKA SAWAKO
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
SONY SEMICONDUCTOR SOLUTIONS CORP
SONY SEMICONDUCTOR SOLUTIONS CORP
TANAKA SAWAKO
;
EBIKO YOSHIKI
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
SONY SEMICONDUCTOR SOLUTIONS CORP
SONY SEMICONDUCTOR SOLUTIONS CORP
EBIKO YOSHIKI
.
日本专利
:JP2024177992A
,2024-12-24
[5]
電磁波検出器および電磁波検出器アレイ[ja]
[P].
日本专利
:JP7123282B1
,2022-08-22
[6]
電磁波検出器および電磁波検出器アレイ[ja]
[P].
日本专利
:JP2022110034A
,2022-07-28
[7]
電磁波検出器および電磁波検出器アレイ[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2020003613A1
,2021-02-15
[8]
電磁波検出器および電磁波検出器アレイ[ja]
[P].
日本专利
:JP7433533B1
,2024-02-19
[9]
画像処理装置、および電子機器[ja]
[P].
日本专利
:JP2025128336A
,2025-09-02
[10]
位置検出方法、位置検出器および集積回路[ja]
[P].
日本专利
:JP7680646B1
,2025-05-20
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