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分光光度計および分光分析装置、ならびに分光光度計の製造方法[ja]
被引:0
申请号
:
JP20200561233
申请日
:
2019-11-19
公开(公告)号
:
JP7094390B2
公开(公告)日
:
2022-07-01
发明(设计)人
:
申请人
:
申请人地址
:
IPC主分类号
:
G01J3/36
IPC分类号
:
G01J3/20
G01N21/27
G02B5/18
H01L31/02
H01L31/0232
代理机构
:
代理人
:
法律状态
:
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
共 50 条
[1]
分光光度計および分光分析装置、ならびに分光光度計の製造方法[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2020129519A1
,2021-10-14
[2]
分光光度计和分光分析装置、以及分光光度计的制造方法
[P].
八重樫健太
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
八重樫健太
;
江畠佳定
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
江畠佳定
;
青野宇纪
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
青野宇纪
.
中国专利
:CN112912701A
,2021-06-04
[3]
分光分析方法および分光分析装置[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2004053466A1
,2006-04-13
[4]
分光装置及び分光方法並びに分析装置[ja]
[P].
日本专利
:JP6055006B2
,2016-12-27
[5]
分光分析装置および方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6687217B2
,2020-04-22
[6]
分光分析装置及び分光分析方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6981817B2
,2021-12-17
[7]
分光分析方法及び分光分析装置[ja]
[P].
日本专利
:JP7285716B2
,2023-06-02
[8]
分光分析方法及び分光分析装置[ja]
[P].
日本专利
:JP7189845B2
,2022-12-14
[9]
分光分析装置及び分光分析方法[ja]
[P].
日本专利
:JP7682169B2
,2025-05-23
[10]
分光分析方法及び分光分析装置[ja]
[P].
日本专利
:JP5947709B2
,2016-07-06
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