分光光度計および分光分析装置、ならびに分光光度計の製造方法[ja]

被引:0
申请号
JP20200561233
申请日
2019-11-19
公开(公告)号
JP7094390B2
公开(公告)日
2022-07-01
发明(设计)人
申请人
申请人地址
IPC主分类号
G01J3/36
IPC分类号
G01J3/20 G01N21/27 G02B5/18 H01L31/02 H01L31/0232
代理机构
代理人
法律状态
国省代码
引用
下载
收藏
共 50 条
[2]
分光光度计和分光分析装置、以及分光光度计的制造方法 [P]. 
八重樫健太 ;
江畠佳定 ;
青野宇纪 .
中国专利 :CN112912701A ,2021-06-04
[3]
分光分析方法および分光分析装置[ja] [P]. 
日本专利 :JPWO2004053466A1 ,2006-04-13
[4]
分光装置及び分光方法並びに分析装置[ja] [P]. 
日本专利 :JP6055006B2 ,2016-12-27
[5]
分光分析装置および方法[ja] [P]. 
日本专利 :JP6687217B2 ,2020-04-22
[6]
分光分析装置及び分光分析方法[ja] [P]. 
日本专利 :JP6981817B2 ,2021-12-17
[7]
分光分析方法及び分光分析装置[ja] [P]. 
日本专利 :JP7285716B2 ,2023-06-02
[8]
分光分析方法及び分光分析装置[ja] [P]. 
日本专利 :JP7189845B2 ,2022-12-14
[9]
分光分析装置及び分光分析方法[ja] [P]. 
日本专利 :JP7682169B2 ,2025-05-23
[10]
分光分析方法及び分光分析装置[ja] [P]. 
日本专利 :JP5947709B2 ,2016-07-06