劣化判定装置[ja]

被引：0

申请号：

JP20180565085

申请日：

2017-06-12

公开(公告)号：

JPWO2018229830A1

公开(公告)日：

2019-06-27

发明(设计)人：

申请人：

申请人地址：

IPC主分类号：

H02G1/02

IPC分类号：

G01B7/06 H02G9/00

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法律状态信息

共 50 条

[1]

劣化判定装置[ja] [P].

YAMAWAKI ATSUKI ;

SHIMODA HIROKI ;

YANAGIDA TAIJI ;

OKAMOTO TAKAHIRO ;

HASHIKURA MANABU .

日本专利 :JP2024135573A ,2024-10-04

[2]

劣化判定装置[ja] [P].

USHIJIMA KOKI ;

MAEDA TOSHIO .

日本专利 :JP2024139037A ,2024-10-09

[3]

劣化判定装置[ja] [P].

日本专利 :JP6888448B2 ,2021-06-16

[4]

劣化判定装置[ja] [P].

日本专利 :JP6547918B2 ,2019-07-24

[5]

劣化判定装置[ja] [P].

FUJIMURA YUKI .

日本专利 :JP2024138902A ,2024-10-09

[6]

劣化判定装置[ja] [P].

日本专利 :JP7769924B2 ,2025-11-14

[7]

劣化判定方法及び劣化判定装置[ja] [P].

日本专利 :JP6775221B2 ,2020-10-28

[8]

劣化判定装置及び劣化判定方法[ja] [P].

日本专利 :JP6824614B2 ,2021-02-03

[9]

劣化判定方法及劣化判定装置 [P].

松花文太 ;

神户悟郎 .

中国专利 :CN114674849A ,2022-06-28

[10]

劣化判定装置以及劣化判定系统 [P].

大久保勇佐 ;

莲池正晴 ;

马场纪行 ;

木村幸治 .

中国专利 :CN110948809A ,2020-04-03

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