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試料分析装置[ja]
被引:0
申请号
:
JP20160519276
申请日
:
2015-05-12
公开(公告)号
:
JPWO2015174431A1
公开(公告)日
:
2017-04-20
发明(设计)人
:
申请人
:
申请人地址
:
IPC主分类号
:
G01N35/00
IPC分类号
:
G01N35/08
代理机构
:
代理人
:
法律状态
:
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
共 50 条
[1]
試料分析装置[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2015174430A1
,2017-04-20
[2]
試料分析装置[ja]
[P].
日本专利
:JP5993679B2
,2016-09-14
[3]
試料分析装置[ja]
[P].
日本专利
:JP7299175B2
,2023-06-27
[4]
試料分析装置[ja]
[P].
日本专利
:JP7691309B2
,2025-06-11
[5]
試料分析装置[ja]
[P].
日本专利
:JP5964388B2
,2016-08-03
[6]
試料分析装置[ja]
[P].
日本专利
:JP5963475B2
,2016-08-03
[7]
試料分析装置[ja]
[P].
日本专利
:JP6061297B2
,2017-01-18
[8]
試料分析装置[ja]
[P].
日本专利
:JP5945205B2
,2016-07-05
[9]
試料分析装置[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2019013359A1
,2020-05-21
[10]
試料分析装置[ja]
[P].
日本专利
:JP5656625B2
,2015-01-21
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