イオンガイド装置及びイオンガイド方法[ja]

被引：0

申请号：

JP20150517583

申请日：

2013-05-28

公开(公告)号：

JP2015521784A

公开(公告)日：

2015-07-30

发明(设计)人：

申请人：

申请人地址：

IPC主分类号：

H01J49/06

IPC分类号：

G01N27/62 H01J49/26 H01J49/42

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法律状态信息

共 50 条

[1]

イオンガイド装置及びイオンガイド方法[ja] [P].

日本专利 :JP2020518106A ,2020-06-18

[2]

イオンガイド装置[ja] [P].

日本专利 :JP2018520481A ,2018-07-26

[3]

イオンガイド及び質量分析装置[ja] [P].

日本专利 :JPWO2012081122A1 ,2014-05-22

[4]

イオンガイド及び質量分析装置[ja] [P].

日本专利 :JPWO2018069982A1 ,2019-03-22

[5]

イオンガイド及び質量分析装置[ja] [P].

日本专利 :JPWO2012124041A1 ,2014-07-17

[6]

イオンガイド装置、イオン反応装置、及び質量分析装置[ja] [P].

日本专利 :JPWO2007060755A1 ,2009-05-07

[7]

質量分析装置及びイオンガイドの駆動方法[ja] [P].

日本专利 :JPWO2013136509A1 ,2015-08-03

[8]

イオン生成装置[ja] [P].

日本专利 :JPWO2004109875A1 ,2006-07-20

[9]

イオン源、質量分析計、及び、イオン源製造方法[ja] [P].

TAKADA YASUAKI ;

SUGIYAMA MASUYUKI ;

KUMANO SHUN ;

HASEGAWA HIDEKI ;

SUGAYA MASAKAZU .

日本专利 :JP2024046384A ,2024-04-03

[10]

イオン光学デバイス[ja] [P].

日本专利 :JP2019510350A ,2019-04-11

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