共 50 条
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イオントラップ質量分析装置[ja]
被引：0
申请号：
JP20090510783
申请日：
2008-03-28
公开(公告)号：
JPWO2008129850A1
公开(公告)日：
2010-07-22
发明(设计)人：
申请人：
申请人地址：
IPC主分类号：
H01J49/42
IPC分类号：
G01N27/62
G01N27/64
H01J49/06
H01J49/10
代理机构：
代理人：
法律状态：
国省代码：
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法律状态
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