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検査システム[ja]
被引:0
申请号
:
JP20220580818
申请日
:
2021-06-29
公开(公告)号
:
JP2023531768A
公开(公告)日
:
2023-07-25
发明(设计)人
:
申请人
:
申请人地址
:
IPC主分类号
:
G01N1/00
IPC分类号
:
G01N1/02
代理机构
:
代理人
:
法律状态
:
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
共 50 条
[1]
検査システム[ja]
[P].
日本专利
:JP6611891B1
,2019-11-27
[2]
検査予約システム[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2012039149A1
,2014-02-03
[3]
検査システム、識別システム、及び学習データ生成装置[ja]
[P].
日本专利
:JP6844564B2
,2021-03-17
[4]
検索式生成システム[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2010147114A1
,2012-12-06
[5]
検査システム、画像識別システム、識別システム、識別器生成システム、及び学習データ生成装置[ja]
[P].
日本专利
:JP6766839B2
,2020-10-14
[6]
データ生成装置および基板検査システム[ja]
[P].
日本专利
:JP6116419B2
,2017-04-19
[7]
検査指示情報生成装置、基板検査システム、検査指示情報生成方法、及び検査指示情報生成プログラム[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2020054214A1
,2021-09-09
[8]
検査指示情報生成装置、基板検査システム、検査指示情報生成方法、及び検査指示情報生成プログラム[ja]
[P].
日本专利
:JP7352840B2
,2023-09-29
[9]
検査指示情報生成装置、基板検査システム、検査指示情報生成方法、及び検査指示情報生成プログラム[ja]
[P].
日本专利
:JP7384169B2
,2023-11-21
[10]
検査指示情報生成装置、基板検査システム、検査指示情報生成方法、及び検査指示情報生成プログラム[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2020095810A1
,2021-09-30
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