試料ホルダ及び側面照射型蛍光X線分析装置[ja]

被引:0
申请号
JP20230001024U
申请日
2023-03-31
公开(公告)号
JP3242132U
公开(公告)日
2023-05-29
发明(设计)人
申请人
申请人地址
IPC主分类号
G01N23/223
IPC分类号
代理机构
代理人
法律状态
国省代码
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共 50 条
[1]
試料ホルダ、試料室及びX線分析装置[ja] [P]. 
日本专利 :JP6077812B2 ,2017-02-08
[4]
X線分析装置用試料ホルダ[ja] [P]. 
日本专利 :JP2023540009A ,2023-09-21
[5]
X線分析装置用試料ホルダ[ja] [P]. 
日本专利 :JP7745625B2 ,2025-09-29
[6]
蛍光X線分析方法及び蛍光X線分析装置[ja] [P]. 
日本专利 :JP5975181B2 ,2016-08-23
[7]
蛍光X線分析装置及び蛍光X線分析方法[ja] [P]. 
日本专利 :JP6994755B2 ,2022-01-14
[8]
蛍光X線分析装置及び蛍光X線分析方法[ja] [P]. 
日本专利 :JP5907375B2 ,2016-04-26
[9]
蛍光X線分析方法及び蛍光X線分析装置[ja] [P]. 
日本专利 :JPWO2015056304A1 ,2017-03-09
[10]
試料パウチセル及び蛍光X線分析方法[ja] [P]. 
TAKAHARA AKISATO ;
SHOJI TAKASHI .
日本专利 :JP2024145515A ,2024-10-15