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試料ホルダ及び側面照射型蛍光X線分析装置[ja]
被引:0
申请号
:
JP20230001024U
申请日
:
2023-03-31
公开(公告)号
:
JP3242132U
公开(公告)日
:
2023-05-29
发明(设计)人
:
申请人
:
申请人地址
:
IPC主分类号
:
G01N23/223
IPC分类号
:
代理机构
:
代理人
:
法律状态
:
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
共 50 条
[1]
試料ホルダ、試料室及びX線分析装置[ja]
[P].
日本专利
:JP6077812B2
,2017-02-08
[2]
蛍光X線分析装置用の試料ホルダ並びに試料ホルダ作成治具及び蛍光X線分析装置用の試料の作製方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6586622B2
,2019-10-09
[3]
粉体試料セル、蛍光X線分析装置及び蛍光X線分析方法[ja]
[P].
日本专利
:JP7208882B2
,2023-01-19
[4]
X線分析装置用試料ホルダ[ja]
[P].
日本专利
:JP2023540009A
,2023-09-21
[5]
X線分析装置用試料ホルダ[ja]
[P].
日本专利
:JP7745625B2
,2025-09-29
[6]
蛍光X線分析方法及び蛍光X線分析装置[ja]
[P].
日本专利
:JP5975181B2
,2016-08-23
[7]
蛍光X線分析装置及び蛍光X線分析方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6994755B2
,2022-01-14
[8]
蛍光X線分析装置及び蛍光X線分析方法[ja]
[P].
日本专利
:JP5907375B2
,2016-04-26
[9]
蛍光X線分析方法及び蛍光X線分析装置[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2015056304A1
,2017-03-09
[10]
試料パウチセル及び蛍光X線分析方法[ja]
[P].
TAKAHARA AKISATO
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
RIGAKU DENKI CO LTD
RIGAKU DENKI CO LTD
TAKAHARA AKISATO
;
SHOJI TAKASHI
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
RIGAKU DENKI CO LTD
RIGAKU DENKI CO LTD
SHOJI TAKASHI
.
日本专利
:JP2024145515A
,2024-10-15
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