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被測定物測定装置および被測定物測定方法[ja]
被引:0
申请号
:
JP20160169084
申请日
:
2016-08-31
公开(公告)号
:
JP6761703B2
公开(公告)日
:
2020-09-30
发明(设计)人
:
申请人
:
申请人地址
:
IPC主分类号
:
G01B5/00
IPC分类号
:
G01B5/20
代理机构
:
代理人
:
法律状态
:
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
共 50 条
[1]
被測定物の硬さ測定装置および被測定物の硬さ測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP7303530B2
,2023-07-05
[2]
被測定物の測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2015005156A1
,2017-03-02
[3]
被測定物の測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2012165052A1
,2015-02-23
[4]
被測定物の測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2014017430A1
,2016-07-11
[5]
被測定物の測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2014192389A1
,2017-02-23
[6]
被測定物の測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP5914474B2
,2016-05-11
[7]
被測定物の測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP5609654B2
,2014-10-22
[8]
被測定物の測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP5983883B2
,2016-09-06
[9]
被測定物の測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6086152B2
,2017-03-01
[10]
測定対象物測定器具、測定装置および測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2005015217A1
,2006-10-05
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