測定装置、電子機器、及び測定方法[ja]

被引:0
申请号
JP20150212281
申请日
2015-10-28
公开(公告)号
JP6641883B2
公开(公告)日
2020-02-05
发明(设计)人
申请人
申请人地址
IPC主分类号
G01J3/26
IPC分类号
G01J3/36 G01N21/27
代理机构
代理人
法律状态
国省代码
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共 50 条
[1]
測定装置、電子機器、及び測定方法[ja] [P]. 
日本专利 :JP6589478B2 ,2019-10-16
[2]
分光測定装置、電子機器及び分光測定方法[ja] [P]. 
日本专利 :JP6984400B2 ,2021-12-22
[6]
温度測定装置、温度測定方法、及び電気機器[ja] [P]. 
日本专利 :JP7442743B2 ,2024-03-04
[7]
電子スピン測定装置及び測定方法[ja] [P]. 
日本专利 :JPWO2010041393A1 ,2012-03-01
[8]
測定方法、内径測定器及び内径測定装置[ja] [P]. 
日本专利 :JP7490605B2 ,2024-05-27
[9]
測定装置及び測定方法[ja] [P]. 
日本专利 :JPWO2013084621A1 ,2015-04-27
[10]
測定装置及び測定方法[ja] [P]. 
日本专利 :JPWO2015198472A1 ,2017-05-25