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測定装置、電子機器、及び測定方法[ja]
被引:0
申请号
:
JP20150212281
申请日
:
2015-10-28
公开(公告)号
:
JP6641883B2
公开(公告)日
:
2020-02-05
发明(设计)人
:
申请人
:
申请人地址
:
IPC主分类号
:
G01J3/26
IPC分类号
:
G01J3/36
G01N21/27
代理机构
:
代理人
:
法律状态
:
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
共 50 条
[1]
測定装置、電子機器、及び測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6589478B2
,2019-10-16
[2]
分光測定装置、電子機器及び分光測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6984400B2
,2021-12-22
[3]
管理装置、測定装置、管理方法、測定方法及び電子機器[ja]
[P].
日本专利
:JP2017538354A
,2017-12-21
[4]
測定装置、測定方法、および測定装置を備える電子機器[ja]
[P].
日本专利
:JP6680837B2
,2020-04-15
[5]
測定装置、測定方法、および測定装置を備える電子機器[ja]
[P].
日本专利
:JP6616936B2
,2019-12-04
[6]
温度測定装置、温度測定方法、及び電気機器[ja]
[P].
日本专利
:JP7442743B2
,2024-03-04
[7]
電子スピン測定装置及び測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2010041393A1
,2012-03-01
[8]
測定方法、内径測定器及び内径測定装置[ja]
[P].
日本专利
:JP7490605B2
,2024-05-27
[9]
測定装置及び測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2013084621A1
,2015-04-27
[10]
測定装置及び測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2015198472A1
,2017-05-25
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