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超音波測定装置、超音波画像装置及び超音波測定方法[ja]
被引：0
申请号：
JP20130183799
申请日：
2013-09-05
公开(公告)号：
JP6197505B2
公开(公告)日：
2017-09-20
发明(设计)人：
申请人：
申请人地址：
IPC主分类号：
A61B8/00
IPC分类号：
代理机构：
代理人：
法律状态：
国省代码：
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法律状态
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