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ブリルアン散乱測定方法およびブリルアン散乱測定装置[ja]
被引:0
申请号
:
JP20160036685
申请日
:
2016-02-29
公开(公告)号
:
JP6552983B2
公开(公告)日
:
2019-07-31
发明(设计)人
:
申请人
:
申请人地址
:
IPC主分类号
:
G01D5/353
IPC分类号
:
代理机构
:
代理人
:
法律状态
:
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
共 50 条
[1]
ブリルアン散乱測定方法およびブリルアン散乱測定装置[ja]
[P].
日本专利
:JP6647420B2
,2020-02-14
[2]
ブリルアン散乱測定方法およびブリルアン散乱測定装置[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2018083732A1
,2019-07-18
[3]
ブリルアン散乱測定装置及びブリルアン散乱測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6338154B2
,2018-06-06
[4]
ブリルアン散乱測定装置及びブリルアン散乱測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6429325B2
,2018-11-28
[5]
タンブル流測定装置およびタンブル流測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6637342B2
,2020-01-29
[6]
アルブミン濃度測定装置及びアルブミン濃度測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6303555B2
,2018-04-04
[7]
ブリルアン利得スペクトル分布測定方法および装置[ja]
[P].
日本专利
:JP7521612B2
,2024-07-24
[8]
アルブミン測定用試験片及びアルブミンの測定方法[ja]
[P].
ABURAYA YOSHIHIRO
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
FUJIFILM CORP
FUJIFILM CORP
ABURAYA YOSHIHIRO
;
MURAKAMI MASAKI
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
FUJIFILM CORP
FUJIFILM CORP
MURAKAMI MASAKI
;
KOYAMA ERIKO
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
FUJIFILM CORP
FUJIFILM CORP
KOYAMA ERIKO
;
MATSUNO TADAHIRO
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
FUJIFILM CORP
FUJIFILM CORP
MATSUNO TADAHIRO
.
日本专利
:JP2024166601A
,2024-11-29
[9]
アルブミン測定用試験片及びアルブミンの測定方法[ja]
[P].
ABURAYA YOSHIHIRO
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
FUJIFILM CORP
FUJIFILM CORP
ABURAYA YOSHIHIRO
;
MURAKAMI MASAKI
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0
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机构:
FUJIFILM CORP
FUJIFILM CORP
MURAKAMI MASAKI
;
MATSUNO TADAHIRO
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机构:
FUJIFILM CORP
FUJIFILM CORP
MATSUNO TADAHIRO
;
KOYAMA ERIKO
论文数:
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引用数:
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机构:
FUJIFILM CORP
FUJIFILM CORP
KOYAMA ERIKO
.
日本专利
:JP2025054061A
,2025-04-07
[10]
ブリルアン周波数シフト分布測定装置及びブリルアン周波数シフト分布測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP7246596B2
,2023-03-28
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