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微小粒子測定装置及び微小粒子測定方法[ja]
被引:0
申请号
:
JP20180538037
申请日
:
2017-06-27
公开(公告)号
:
JPWO2018047441A1
公开(公告)日
:
2019-07-18
发明(设计)人
:
申请人
:
申请人地址
:
IPC主分类号
:
G01N15/14
IPC分类号
:
G01N21/47
G01N21/53
G01N21/64
代理机构
:
代理人
:
法律状态
:
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
共 50 条
[1]
微小粒子測定装置及び微小粒子測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6860015B2
,2021-04-14
[2]
微小粒子測定装置及び微小粒子測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6860016B2
,2021-04-14
[3]
微小粒子測定装置及び微小粒子測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2018047442A1
,2019-07-18
[4]
微小粒子測定装置及び微小粒子測定装置の洗浄方法[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2017212718A1
,2019-04-04
[5]
微小粒子測定装置[ja]
[P].
日本专利
:JP5772425B2
,2015-09-02
[6]
微小粒子測定装置[ja]
[P].
日本专利
:JP6015735B2
,2016-10-26
[7]
微小粒子測定装置及び微小粒子測定装置の洗浄方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6863377B2
,2021-04-21
[8]
微小粒子測定装置[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2014061368A1
,2016-09-05
[9]
微小粒子測定装置[ja]
[P].
日本专利
:JP6299600B2
,2018-03-28
[10]
微小粒子測定装置[ja]
[P].
日本专利
:JP6249049B2
,2017-12-20
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