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分析装置および分析方法[ja]
被引:0
申请号
:
JP20190150440
申请日
:
2019-08-20
公开(公告)号
:
JP6783359B2
公开(公告)日
:
2020-11-11
发明(设计)人
:
申请人
:
申请人地址
:
IPC主分类号
:
G01N23/2251
IPC分类号
:
G01N23/04
代理机构
:
代理人
:
法律状态
:
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
共 50 条
[1]
分析装置および分析方法[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2011001917A1
,2012-12-13
[2]
分析装置および分析方法[ja]
[P].
日本专利
:JP7608515B2
,2025-01-06
[3]
分析方法および分析装置[ja]
[P].
日本专利
:JP7144475B2
,2022-09-29
[4]
分析装置および分析方法[ja]
[P].
日本专利
:JP5843516B2
,2016-01-13
[5]
分析方法および分析装置[ja]
[P].
日本专利
:JP7743387B2
,2025-09-24
[6]
分析装置および分析方法[ja]
[P].
日本专利
:JP5700527B2
,2015-04-15
[7]
分析方法および分析装置[ja]
[P].
日本专利
:JP7774966B2
,2025-11-25
[8]
分析装置および分析方法[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2019049395A1
,2020-10-29
[9]
分析装置および分析方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6454518B2
,2019-01-16
[10]
分析装置および分析方法[ja]
[P].
MITSUI KATSUHIRO
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
KYOCERA CORP
KYOCERA CORP
MITSUI KATSUHIRO
;
NAGASAKA YUSHI
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
KYOCERA CORP
KYOCERA CORP
NAGASAKA YUSHI
.
日本专利
:JP2024070695A
,2024-05-23
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