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自動分析装置および自動分析システム[ja]
被引:0
申请号
:
JP20200532178
申请日
:
2019-05-21
公开(公告)号
:
JP7068462B2
公开(公告)日
:
2022-05-16
发明(设计)人
:
申请人
:
申请人地址
:
IPC主分类号
:
G01N35/00
IPC分类号
:
G01N35/02
代理机构
:
代理人
:
法律状态
:
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
共 50 条
[1]
自動分析装置および自動分析システム[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2020021829A1
,2021-05-13
[2]
自動分析装置および自動分析システム[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2020039679A1
,2021-08-10
[3]
自動分析装置および自動分析システム[ja]
[P].
日本专利
:JP6965456B2
,2021-11-10
[4]
自動分析装置および自動分析システム[ja]
[P].
日本专利
:JP7534986B2
,2024-08-15
[5]
自動分析装置、自動分析システム、および分析方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6782720B2
,2020-11-11
[6]
自動分析装置、自動分析システム及び自動分析方法[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2017033562A1
,2018-08-16
[7]
自動分析装置、自動分析システム及び自動分析方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6692361B2
,2020-05-13
[8]
自動分析装置及び自動分析システム[ja]
[P].
日本专利
:JP6564864B2
,2019-08-21
[9]
自動分析装置及び自動分析システム[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2017033648A1
,2018-06-07
[10]
自動分析装置及び自動分析システム[ja]
[P].
日本专利
:JP6251068B2
,2017-12-20
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