解剖学的構造体の測定及び処理に関する装置[ja]

被引:0
申请号
JP20140535868
申请日
2012-10-11
公开(公告)号
JP6189847B2
公开(公告)日
2017-08-30
发明(设计)人
申请人
申请人地址
IPC主分类号
A61B5/0215
IPC分类号
A61B5/02 A61B5/026 A61F2/95 A61M25/00
代理机构
代理人
法律状态
国省代码
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共 50 条
[3]
解剖学的構造に侵入するための装置[ja] [P]. 
日本专利 :JP2025537734A ,2025-11-20
[4]
解剖学的構造の処置装置及び方法[ja] [P]. 
日本专利 :JP5796065B2 ,2015-10-21
[5]
扁平な解剖学的構造を評定するための画像処理[ja] [P]. 
日本专利 :JP2020531182A ,2020-11-05
[6]
解剖学的測定点を決定するための測定器[ja] [P]. 
日本专利 :JP3201003U ,2015-11-19
[8]
解剖学的領域の測定器具及び方法[ja] [P]. 
日本专利 :JP2016537161A ,2016-12-01
[9]
解剖学的構造の境界の自動画定[ja] [P]. 
日本专利 :JP7710844B2 ,2025-07-22
[10]
解剖学的構造の識別[ja] [P]. 
日本专利 :JP2017532174A ,2017-11-02