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測定用チップ、測定装置、および測定方法[ja]
被引:0
申请号
:
JP20200185461
申请日
:
2020-11-05
公开(公告)号
:
JP6946537B2
公开(公告)日
:
2021-10-06
发明(设计)人
:
申请人
:
申请人地址
:
IPC主分类号
:
G01N21/41
IPC分类号
:
G01N33/543
代理机构
:
代理人
:
法律状态
:
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
共 50 条
[1]
測定用チップ、測定装置、および測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2017006679A1
,2018-04-19
[2]
測定用チップ、測定装置、および測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6676236B2
,2020-04-08
[3]
測定用チップ、測定装置、および測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2019044418A1
,2020-10-08
[4]
測定用チップ、測定装置、および測定方法[ja]
[P].
TADA KEIJI
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
FURUNO ELECTRIC CO
FURUNO ELECTRIC CO
TADA KEIJI
;
KAWAJIRI TAKESHI
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
FURUNO ELECTRIC CO
FURUNO ELECTRIC CO
KAWAJIRI TAKESHI
;
KAJI SHOICHIRO
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
FURUNO ELECTRIC CO
FURUNO ELECTRIC CO
KAJI SHOICHIRO
.
日本专利
:JP2024076618A
,2024-06-06
[5]
測定用チップ、測定装置、および測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6792082B2
,2020-11-25
[6]
測定チップ、測定方法および測定装置[ja]
[P].
日本专利
:JP6460104B2
,2019-01-30
[7]
測定チップ、測定方法および測定装置[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2015194513A1
,2017-04-20
[8]
測定方法、測定装置および測定チップ[ja]
[P].
日本专利
:JP6954116B2
,2021-10-27
[9]
測定方法、測定装置および測定チップ[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2016152707A1
,2017-12-28
[10]
測定方法、および測定装置[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2017018049A1
,2018-03-22
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