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自動分析システム[ja]
被引:0
申请号
:
JP20130541712
申请日
:
2012-10-23
公开(公告)号
:
JPWO2013065528A1
公开(公告)日
:
2015-04-02
发明(设计)人
:
申请人
:
申请人地址
:
IPC主分类号
:
G01N35/00
IPC分类号
:
代理机构
:
代理人
:
法律状态
:
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
共 50 条
[1]
自動分析システム[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2018037537A1
,2019-03-14
[2]
自動分析システム[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2020021837A1
,2021-08-12
[3]
自動分析システム[ja]
[P].
FUKUDA MASAYA
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
HITACHI HIGH TECH CORP
HITACHI HIGH TECH CORP
FUKUDA MASAYA
;
SAKASHITA TAKAMICHI
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
HITACHI HIGH TECH CORP
HITACHI HIGH TECH CORP
SAKASHITA TAKAMICHI
;
IMAI KENTA
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
HITACHI HIGH TECH CORP
HITACHI HIGH TECH CORP
IMAI KENTA
.
日本专利
:JP2025109845A
,2025-07-25
[4]
自動分析システム[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2011093442A1
,2013-06-06
[5]
自動分析システム[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2018168431A1
,2020-01-16
[6]
自動分析システム[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2019189869A1
,2020-10-22
[7]
自動分析システム[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2018168432A1
,2020-04-23
[8]
自動分析システム[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2016075755A1
,2017-04-27
[9]
自動分析装置及び自動分析システム[ja]
[P].
日本专利
:JP6564864B2
,2019-08-21
[10]
自動分析装置及び自動分析システム[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2017033648A1
,2018-06-07
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