試料固定装置および試料分析装置[ja]

被引:0
申请号
JP20140231710
申请日
2014-11-14
公开(公告)号
JP6276681B2
公开(公告)日
2018-02-07
发明(设计)人
申请人
申请人地址
IPC主分类号
G01N1/28
IPC分类号
H01J37/20 H01J37/252
代理机构
代理人
法律状态
国省代码
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共 50 条
[1]
試料分析方法および試料分析装置[ja] [P]. 
日本专利 :JP6009963B2 ,2016-10-19
[2]
試料分析装置および試料分析方法[ja] [P]. 
日本专利 :JP2022143774A ,2022-10-03
[3]
試料分析方法、および試料分析装置[ja] [P]. 
日本专利 :JPWO2005040784A1 ,2007-04-19
[4]
試料分析装置および試料分析方法[ja] [P]. 
日本专利 :JP5833207B2 ,2015-12-16
[5]
試料分析方法、試料分析装置および試薬[ja] [P]. 
日本专利 :JP6738652B2 ,2020-08-12
[6]
試料分析装置および試料分析方法[ja] [P]. 
日本专利 :JP5622779B2 ,2014-11-12
[7]
試料分析方法および試料分析装置[ja] [P]. 
日本专利 :JPWO2004011921A1 ,2005-11-24
[8]
試料分析用基板および試料分析装置[ja] [P]. 
日本专利 :JP6548645B2 ,2019-07-24
[9]
試料分析用基板および試料分析装置[ja] [P]. 
日本专利 :JPWO2016002731A1 ,2017-04-27
[10]
試料固定装置[ja] [P]. 
日本专利 :JP6280495B2 ,2018-02-14