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試料固定装置および試料分析装置[ja]
被引:0
申请号
:
JP20140231710
申请日
:
2014-11-14
公开(公告)号
:
JP6276681B2
公开(公告)日
:
2018-02-07
发明(设计)人
:
申请人
:
申请人地址
:
IPC主分类号
:
G01N1/28
IPC分类号
:
H01J37/20
H01J37/252
代理机构
:
代理人
:
法律状态
:
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
共 50 条
[1]
試料分析方法および試料分析装置[ja]
[P].
日本专利
:JP6009963B2
,2016-10-19
[2]
試料分析装置および試料分析方法[ja]
[P].
日本专利
:JP2022143774A
,2022-10-03
[3]
試料分析方法、および試料分析装置[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2005040784A1
,2007-04-19
[4]
試料分析装置および試料分析方法[ja]
[P].
日本专利
:JP5833207B2
,2015-12-16
[5]
試料分析方法、試料分析装置および試薬[ja]
[P].
日本专利
:JP6738652B2
,2020-08-12
[6]
試料分析装置および試料分析方法[ja]
[P].
日本专利
:JP5622779B2
,2014-11-12
[7]
試料分析方法および試料分析装置[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2004011921A1
,2005-11-24
[8]
試料分析用基板および試料分析装置[ja]
[P].
日本专利
:JP6548645B2
,2019-07-24
[9]
試料分析用基板および試料分析装置[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2016002731A1
,2017-04-27
[10]
試料固定装置[ja]
[P].
日本专利
:JP6280495B2
,2018-02-14
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