異物判定装置、異物判定方法および異物判定プログラム[ja]

被引：0

申请号：

JP20120503212

申请日：

2011-03-02

公开(公告)号：

JPWO2011108582A1

公开(公告)日：

2013-06-27

发明(设计)人：

申请人：

申请人地址：

IPC主分类号：

G06T7/00

IPC分类号：

A61B5/117 A61B5/1172 G06T1/00

代理机构：

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法律状态信息

共 50 条

[1]

異物判定装置、異物判定方法および異物判定プログラム[ja] [P].

日本专利 :JP5725012B2 ,2015-05-27

[2]

異常判定装置、異常判定方法、および異常判定プログラム[ja] [P].

日本专利 :JP7625889B2 ,2025-02-04

[3]

異常判定装置、異常判定方法および異常判定プログラム[ja] [P].

AKIYAMA TAKATO ;

TATEISHI HIROSHI ;

FURUTO TAKESHI .

日本专利 :JP2025119251A ,2025-08-14

[4]

異常判定プログラム、異常判定方法および異常判定装置[ja] [P].

日本专利 :JP7533140B2 ,2024-08-14

[5]

異常判定装置、異常判定方法およびプログラム[ja] [P].

日本专利 :JP7298412B2 ,2023-06-27

[6]

異常判定装置、異常判定方法及び異常判定プログラム[ja] [P].

日本专利 :JP7092989B2 ,2022-06-29

[7]

異常判定装置、異常判定方法、及び異常判定プログラム[ja] [P].

日本专利 :JP7505530B2 ,2024-06-25

[8]

異常判定装置、異常判定方法、及び異常判定プログラム[ja] [P].

NOMURA TAISUKE ;

FUJII TORU ;

HATTORI REIKO .

日本专利 :JP2023183878A ,2023-12-28

[9]

異常判定装置、異常判定方法及び異常判定プログラム[ja] [P].

日本专利 :JPWO2018221136A1 ,2019-11-07

[10]

異常判定装置、異常判定方法、及び、異常判定プログラム[ja] [P].

日本专利 :JP6795044B2 ,2020-12-02

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