粒度分布測定装置及び粒度分布測定方法[ja]

被引：0

申请号：

JP20190530229

申请日：

2019-03-19

公开(公告)号：

JPWO2019193971A1

公开(公告)日：

2020-04-30

发明(设计)人：

申请人：

申请人地址：

IPC主分类号：

G01N15/02

IPC分类号：

G01N21/17 G01N21/27

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法律状态信息

共 50 条

[1]

粒度分布測定装置及び粒度分布測定方法[ja] [P].

日本专利 :JP6638526B2 ,2020-01-29

[2]

粒度分布測定装置及び粒度分布測定方法[ja] [P].

日本专利 :JP6566180B1 ,2019-08-28

[3]

粒度分布測定装置及び粒度分布測定方法[ja] [P].

日本专利 :JP7739987B2 ,2025-09-17

[4]

粒度分布の測定方法、粒度分布の測定装置、及び演算装置[ja] [P].

日本专利 :JP7426659B2 ,2024-02-02

[5]

粒径別粒度分布測定装置、及び、粒径別粒度分布測定方法[ja] [P].

日本专利 :JP5975519B2 ,2016-08-23

[6]

粒度分布測定方法[ja] [P].

HASHIGUCHI SHOHEI ;

SUGIURA MASAHITO ;

NATSUI TAKUYA .

日本专利 :JP2025024413A ,2025-02-20

[7]

粒度分布測定方法[ja] [P].

日本专利 :JP7610119B2 ,2025-01-08

[8]

粒度分布測定方法[ja] [P].

HASHIGUCHI SHOHEI ;

SUGIURA MASAHITO ;

NATSUI TAKUYA ;

SHINOMIYA YUJI .

日本专利 :JP2025080149A ,2025-05-23

[9]

原料の粒度分布測定装置、粒度分布測定方法および空隙率測定装置[ja] [P].

日本专利 :JP6590072B2 ,2019-10-16

[10]

原料の粒度分布測定装置、粒度分布測定方法および空隙率測定装置[ja] [P].

日本专利 :JPWO2018181942A1 ,2019-04-04

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