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歪測定方法及び歪測定装置[ja]
被引:0
申请号
:
JP20110265784
申请日
:
2011-12-05
公开(公告)号
:
JP5712116B2
公开(公告)日
:
2015-05-07
发明(设计)人
:
申请人
:
申请人地址
:
IPC主分类号
:
H04B3/46
IPC分类号
:
代理机构
:
代理人
:
法律状态
:
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
共 50 条
[1]
歪測定方法および歪測定装置[ja]
[P].
日本专利
:JP5857828B2
,2016-02-10
[2]
歪測定装置および歪測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6222944B2
,2017-11-01
[3]
歪測定装置および歪測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6355980B2
,2018-07-11
[4]
磁気歪測定方法及び磁気歪測定装置[ja]
[P].
日本专利
:JP5631344B2
,2014-11-26
[5]
歪み分布測定装置、及び歪み分布測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP7276239B2
,2023-05-18
[6]
熱歪測定方法および熱歪測定装置[ja]
[P].
日本专利
:JP6542118B2
,2019-07-10
[7]
磁歪測定装置および磁歪測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP7295433B2
,2023-06-21
[8]
歪み測定装置、歪み測定方法及び歪み測定プログラム[ja]
[P].
日本专利
:JP6635971B2
,2020-01-29
[9]
面形状歪測定装置及び面形状歪の測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6532158B2
,2019-06-19
[10]
歪測定装置、静電容量測定装置、歪測定方法、静電容量測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2014147833A1
,2017-02-16
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