歪測定方法及び歪測定装置[ja]

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申请号
JP20110265784
申请日
2011-12-05
公开(公告)号
JP5712116B2
公开(公告)日
2015-05-07
发明(设计)人
申请人
申请人地址
IPC主分类号
H04B3/46
IPC分类号
代理机构
代理人
法律状态
国省代码
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共 50 条
[1]
歪測定方法および歪測定装置[ja] [P]. 
日本专利 :JP5857828B2 ,2016-02-10
[2]
歪測定装置および歪測定方法[ja] [P]. 
日本专利 :JP6222944B2 ,2017-11-01
[3]
歪測定装置および歪測定方法[ja] [P]. 
日本专利 :JP6355980B2 ,2018-07-11
[4]
磁気歪測定方法及び磁気歪測定装置[ja] [P]. 
日本专利 :JP5631344B2 ,2014-11-26
[5]
歪み分布測定装置、及び歪み分布測定方法[ja] [P]. 
日本专利 :JP7276239B2 ,2023-05-18
[6]
熱歪測定方法および熱歪測定装置[ja] [P]. 
日本专利 :JP6542118B2 ,2019-07-10
[7]
磁歪測定装置および磁歪測定方法[ja] [P]. 
日本专利 :JP7295433B2 ,2023-06-21
[9]
面形状歪測定装置及び面形状歪の測定方法[ja] [P]. 
日本专利 :JP6532158B2 ,2019-06-19