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試料分析装置及び試料分析装置用集光ミラーユニット[ja]
被引:0
申请号
:
JP20170563837
申请日
:
2017-01-27
公开(公告)号
:
JP6754780B2
公开(公告)日
:
2020-09-16
发明(设计)人
:
申请人
:
申请人地址
:
IPC主分类号
:
G01N23/2254
IPC分类号
:
G01N21/62
G01N23/2255
H01J37/20
H01J37/244
H01J37/28
代理机构
:
代理人
:
法律状态
:
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
共 50 条
[1]
試料分析装置及び試料分析装置用集光ミラーユニット[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2017131132A1
,2018-11-22
[2]
試料分析装置、電子顕微鏡、及び集光ミラーユニット[ja]
[P].
日本专利
:JP7072457B2
,2022-05-20
[3]
試料分析装置及び試料分析方法[ja]
[P].
日本专利
:JP7267360B2
,2023-05-01
[4]
試料分析装置及び試料分析方法[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2013099648A1
,2015-05-07
[5]
試料分析方法及び試料分析装置[ja]
[P].
日本专利
:JP2025002086A
,2025-01-09
[6]
試料分析装置及び試料分析方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6313977B2
,2018-04-18
[7]
試料分析装置及び試料分析方法[ja]
[P].
日本专利
:JP7379426B2
,2023-11-14
[8]
試料分析装置及び試料分析方法[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2011155489A1
,2013-08-01
[9]
試料分析装置及び試料分析方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6030676B2
,2016-11-24
[10]
試料分析方法及び試料分析装置[ja]
[P].
SOWA KENKICHI
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
DAIPLA WNRES CO LTD
DAIPLA WNRES CO LTD
SOWA KENKICHI
.
日本专利
:JP2025101574A
,2025-07-07
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