試料分析装置及び試料分析装置用集光ミラーユニット[ja]

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申请号
JP20170563837
申请日
2017-01-27
公开(公告)号
JP6754780B2
公开(公告)日
2020-09-16
发明(设计)人
申请人
申请人地址
IPC主分类号
G01N23/2254
IPC分类号
G01N21/62 G01N23/2255 H01J37/20 H01J37/244 H01J37/28
代理机构
代理人
法律状态
国省代码
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共 50 条
[1]
[3]
試料分析装置及び試料分析方法[ja] [P]. 
日本专利 :JP7267360B2 ,2023-05-01
[4]
試料分析装置及び試料分析方法[ja] [P]. 
日本专利 :JPWO2013099648A1 ,2015-05-07
[5]
試料分析方法及び試料分析装置[ja] [P]. 
日本专利 :JP2025002086A ,2025-01-09
[6]
試料分析装置及び試料分析方法[ja] [P]. 
日本专利 :JP6313977B2 ,2018-04-18
[7]
試料分析装置及び試料分析方法[ja] [P]. 
日本专利 :JP7379426B2 ,2023-11-14
[8]
試料分析装置及び試料分析方法[ja] [P]. 
日本专利 :JPWO2011155489A1 ,2013-08-01
[9]
試料分析装置及び試料分析方法[ja] [P]. 
日本专利 :JP6030676B2 ,2016-11-24
[10]
試料分析方法及び試料分析装置[ja] [P]. 
SOWA KENKICHI .
日本专利 :JP2025101574A ,2025-07-07