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光学デバイス、分析装置、及び光学デバイスの製造方法[ja]
被引:0
申请号
:
JP20190054280
申请日
:
2019-03-22
公开(公告)号
:
JP7315163B2
公开(公告)日
:
2023-07-26
发明(设计)人
:
申请人
:
申请人地址
:
IPC主分类号
:
G01N21/65
IPC分类号
:
B82Y30/00
B82Y40/00
代理机构
:
代理人
:
法律状态
:
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
共 50 条
[1]
光学デバイスおよび分析装置[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2014097886A1
,2017-01-12
[2]
光学デバイスおよび分析装置[ja]
[P].
日本专利
:JP6179905B2
,2017-08-23
[3]
光分析装置及び光分析デバイス[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2005054826A1
,2007-06-28
[4]
マイクロデバイス及び分析装置[ja]
[P].
日本专利
:JP7490488B2
,2024-05-27
[5]
分析装置用の配管デバイス及びその配管デバイスを用いた分析装置[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2018150842A1
,2019-11-07
[6]
分析装置用の配管デバイス及びその配管デバイスを用いた分析装置[ja]
[P].
日本专利
:JP6881474B2
,2021-06-02
[7]
流路デバイス、分析装置及び流体装置[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2014181500A1
,2017-02-23
[8]
流路デバイス、分析装置及び流体装置[ja]
[P].
日本专利
:JP6493204B2
,2019-04-03
[9]
点検デバイス[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2016147714A1
,2017-12-28
[10]
サンプル捕集デバイス、サンプル捕集デバイスを含む分析装置、及びサンプル捕集デバイスの製造方法[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2017154990A1
,2019-01-31
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