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光シート顕微鏡検査のための方法および装置[ja]
被引:0
申请号
:
JP20160553466
申请日
:
2015-02-19
公开(公告)号
:
JP2017507361A
公开(公告)日
:
2017-03-16
发明(设计)人
:
申请人
:
申请人地址
:
IPC主分类号
:
G02B21/00
IPC分类号
:
G01N21/64
代理机构
:
代理人
:
法律状态
:
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
共 50 条
[1]
大きい試料を顕微鏡検査するための顕微鏡および方法[ja]
[P].
日本专利
:JP2022514660A
,2022-02-14
[2]
顕微鏡および微小試料の光学的な検査および/または操作のための方法[ja]
[P].
日本专利
:JP2017523469A
,2017-08-17
[3]
顕微鏡で複数のサンプルを検査するための光学装置および方法[ja]
[P].
日本专利
:JP2016535861A
,2016-11-17
[4]
顕微鏡で複数のサンプルを検査するための光学装置および方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6632523B2
,2020-01-22
[5]
光学顕微鏡および顕微鏡観察方法[ja]
[P].
日本专利
:JP2016509692A
,2016-03-31
[6]
光学装置、光加工装置、顕微鏡装置、および走査方法[ja]
[P].
日本专利
:JP7786603B2
,2025-12-16
[7]
XRF検査のためのシステム及び方法[ja]
[P].
日本专利
:JP2025179804A
,2025-12-10
[8]
大型試料を走査するための光学装置、光学モジュールおよび顕微鏡[ja]
[P].
日本专利
:JP2021515910A
,2021-06-24
[9]
光学装置および光学顕微鏡[ja]
[P].
日本专利
:JP2015527618A
,2015-09-17
[10]
光学装置および光学顕微鏡[ja]
[P].
日本专利
:JP6310917B2
,2018-04-11
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