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分離材を用いた測定方法[ja]
被引:0
申请号
:
JP20170022508
申请日
:
2017-02-09
公开(公告)号
:
JP6885089B2
公开(公告)日
:
2021-06-09
发明(设计)人
:
申请人
:
申请人地址
:
IPC主分类号
:
G01N33/72
IPC分类号
:
B01J20/281
G01N30/00
G01N30/88
G01N33/48
代理机构
:
代理人
:
法律状态
:
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
共 50 条
[1]
酵素を用いた測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP5858945B2
,2016-02-10
[2]
3次元測定器を用いた被測定体の測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP7324497B2
,2023-08-10
[3]
三次元測定機を用いた円測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6175738B2
,2017-08-09
[4]
三次元測定機を用いた円測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6344630B2
,2018-06-20
[5]
光度計を用いた試料測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP5609932B2
,2014-10-22
[6]
X線蛍光を用いた測定対象の測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6462389B2
,2019-01-30
[7]
測定装置及びそれを用いた測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP5763558B2
,2015-08-12
[8]
膜厚測定用成膜部材及びこれを用いた膜厚測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP7317738B2
,2023-07-31
[9]
内部標準物質を用いた測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2010126044A1
,2012-11-01
[10]
高さ測定機および高さ測定機を用いた測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP7437903B2
,2024-02-26
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