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波長分散型蛍光X線分析装置およびそれを用いる蛍光X線分析方法[ja]
被引:0
申请号
:
JP20180542027
申请日
:
2017-08-31
公开(公告)号
:
JP6574959B2
公开(公告)日
:
2019-09-18
发明(设计)人
:
申请人
:
申请人地址
:
IPC主分类号
:
G01N23/223
IPC分类号
:
G01N23/2209
代理机构
:
代理人
:
法律状态
:
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
共 50 条
[1]
波長分散型蛍光X線分析装置およびそれを用いる蛍光X線分析方法[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2018061608A1
,2019-03-07
[2]
蛍光X線分析方法および蛍光X線分析装置[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2005106440A1
,2007-12-13
[3]
蛍光X線分析方法および蛍光X線分析装置[ja]
[P].
日本专利
:JP7687526B2
,2025-06-03
[4]
蛍光X線分析装置および蛍光X線分析方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6709377B2
,2020-06-17
[5]
蛍光X線分析装置および蛍光X線分析方法[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2019234935A1
,2021-02-25
[6]
蛍光X線分析方法および蛍光X線分析装置[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2006013728A1
,2008-05-01
[7]
蛍光X線分析装置および蛍光X線分析方法[ja]
[P].
日本专利
:JP7063383B2
,2022-05-09
[8]
波長分散型蛍光X線分析装置[ja]
[P].
日本专利
:JP6467600B2
,2019-02-13
[9]
蛍光X線分析方法及び蛍光X線分析装置[ja]
[P].
日本专利
:JP5975181B2
,2016-08-23
[10]
蛍光X線分析装置及び蛍光X線分析方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6994755B2
,2022-01-14
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