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自動分析装置、および自動分析方法[ja]
被引:0
申请号
:
JP20180115734
申请日
:
2018-06-19
公开(公告)号
:
JP6843800B2
公开(公告)日
:
2021-03-17
发明(设计)人
:
申请人
:
申请人地址
:
IPC主分类号
:
G01N35/02
IPC分类号
:
G01N35/00
代理机构
:
代理人
:
法律状态
:
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
共 50 条
[1]
自動分析装置および自動分析方法[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2020183982A1
,2021-12-09
[2]
自動分析装置および自動分析方法[ja]
[P].
日本专利
:JP7204878B2
,2023-01-16
[3]
自動分析装置および自動分析方法[ja]
[P].
日本专利
:JP7229335B2
,2023-02-27
[4]
自動分析装置および自動分析方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6595907B2
,2019-10-23
[5]
自動分析装置、および自動分析方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6914887B2
,2021-08-04
[6]
自動分析装置および自動分析方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6876650B2
,2021-05-26
[7]
自動分析装置および自動分析方法[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2019130668A1
,2020-10-22
[8]
自動分析装置および自動分析方法[ja]
[P].
日本专利
:JP7588546B2
,2024-11-22
[9]
自動分析装置および自動分析方法[ja]
[P].
日本专利
:JP7130723B2
,2022-09-05
[10]
自動分析装置および自動分析方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6915010B2
,2021-08-04
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