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変位量測定装置、変位量測定方法および変位量測定プログラム[ja]
被引:0
申请号
:
JP20180120176
申请日
:
2018-06-25
公开(公告)号
:
JP6958494B2
公开(公告)日
:
2021-11-02
发明(设计)人
:
申请人
:
申请人地址
:
IPC主分类号
:
G01B11/16
IPC分类号
:
G01N3/06
G01N3/08
代理机构
:
代理人
:
法律状态
:
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
共 50 条
[1]
変位量測定装置、変位量測定方法、およびプログラム[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2019235409A1
,2021-06-10
[2]
変位量測定装置、変位量測定方法、およびプログラム[ja]
[P].
日本专利
:JP6984747B2
,2021-12-22
[3]
変位量測定装置及び変位量測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6193588B2
,2017-09-06
[4]
変位量測定システム及び変位量測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6397369B2
,2018-09-26
[5]
対象物の変位量測定方法および変位量測定装置[ja]
[P].
日本专利
:JP7414772B2
,2024-01-16
[6]
変位測定装置、変位測定方法、およびプログラム[ja]
[P].
日本专利
:JP7156529B2
,2022-10-19
[7]
橋梁変位量算出装置、橋梁変位量測定装置、橋梁変位量算出方法、橋梁変位量測定方法、プログラム[ja]
[P].
日本专利
:JP6917442B2
,2021-08-11
[8]
変位測定装置および変位測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6609411B2
,2019-11-20
[9]
変位測定装置および変位測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP7493794B2
,2024-06-03
[10]
変位測定方法および変位測定装置[ja]
[P].
MIYATA KAZUYA
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
JFE TECHNO RES CORP
JFE TECHNO RES CORP
MIYATA KAZUYA
;
SHIMIZU TETSUO
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
JFE TECHNO RES CORP
JFE TECHNO RES CORP
SHIMIZU TETSUO
;
WAKITA HIROYUKI
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
JFE TECHNO RES CORP
JFE TECHNO RES CORP
WAKITA HIROYUKI
;
ANDO MITSUHIRO
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
JFE TECHNO RES CORP
JFE TECHNO RES CORP
ANDO MITSUHIRO
.
日本专利
:JP2024036747A
,2024-03-18
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