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ハードディスク用平坦化膜形成組成物及びそれを用いたハードディスクの製造方法[ja]
被引:0
申请号
:
JP20120511651
申请日
:
2011-04-18
公开(公告)号
:
JPWO2011132640A1
公开(公告)日
:
2013-07-18
发明(设计)人
:
申请人
:
申请人地址
:
IPC主分类号
:
G11B5/84
IPC分类号
:
G11B5/65
代理机构
:
代理人
:
法律状态
:
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
共 50 条
[1]
ハードディスク用平坦化膜形成組成物[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2013042655A1
,2015-03-26
[2]
ハードディスク用被膜形成組成物[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2012086692A1
,2014-05-22
[3]
ハードディスク用ガラス基板の製造方法[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2014103296A1
,2017-01-12
[4]
ハードディスク装置用硬化性組成物[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2014014045A1
,2016-07-07
[5]
ハードコートフィルムの製造方法およびハードコートフィルムを用いたディスプレイの製造方法[ja]
[P].
TAGUCHI YUSUKE
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
KANEKA CORP
KANEKA CORP
TAGUCHI YUSUKE
.
日本专利
:JP2024084411A
,2024-06-25
[6]
ハードマスク組成物、ハードマスク層およびパターン形成方法[ja]
[P].
CHUNG JOO YOUNG
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
SAMSUNG SDI CO LTD
SAMSUNG SDI CO LTD
CHUNG JOO YOUNG
;
NAM YOUNHEE
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
SAMSUNG SDI CO LTD
SAMSUNG SDI CO LTD
NAM YOUNHEE
;
JEONG SEULGI
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
SAMSUNG SDI CO LTD
SAMSUNG SDI CO LTD
JEONG SEULGI
.
日本专利
:JP2024134514A
,2024-10-03
[7]
ハードマスク組成物、ハードマスク層およびパターン形成方法[ja]
[P].
CHOI SEIL
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
SAMSUNG SDI CO LTD
SAMSUNG SDI CO LTD
CHOI SEIL
.
日本专利
:JP2024161913A
,2024-11-20
[8]
ハードマスク組成物、ハードマスク層およびパターン形成方法[ja]
[P].
CHOI SEIL
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
SAMSUNG SDI CO LTD
SAMSUNG SDI CO LTD
CHOI SEIL
.
日本专利
:JP2024144281A
,2024-10-11
[9]
磁気ハードディスク用ガラス基板のテクスチャ加工方法及びスラリー[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2005101379A1
,2007-08-30
[10]
光ディスク用紫外線硬化型組成物及び光ディスク[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2010109552A1
,2012-09-20
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