共 11 条
[1]
[2]
[3]
[4]
[5]
材料の薄膜が堆積される圧電結晶のパラメータを測定するための測定装置および方法、ならびにそのような装置を備えた薄膜堆積システムおよびそのようなシステムを制御するための方法[ja]
[P].
日本专利 :JP2023551884A ,2023-12-13
[6]
ワークピースを検査するための座標測定方法および同装置であって、理想的な形態から実質的に逸脱していないことが判っている基準形状を使用して測定補正値を生成するステップを含む、ワークピースを検査するための座標測定方法および同装置[ja]
[P].
日本专利 :JP6735735B2 ,2020-08-05
[7]
ワークピースを検査するための座標測定方法および同装置であって、理想的な形態から実質的に逸脱していないことが判っている基準形状を使用して測定補正値を生成するステップを含む、ワークピースを検査するための座標測定方法および同装置[ja]
[P].
日本专利 :JP2017530345A ,2017-10-12
[8]
[9]
[10]
ジスルフィド型HMGB1特異的抗体、ジスルフィド型HMGB1の測定方法および測定用キット、ならびに、還元型HMGB1、ジスルフィド型HMGB1、トロンビン分解HMGB1等の全てのHMGB1を定量することが可能な測定方法および測定用キット[ja]
[P].
日本专利 :JPWO2018079393A1 ,2019-09-12
