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非接触形状・誘電率測定装置、非接触形状・誘電率測定方法及びプログラム[ja]
被引:0
申请号
:
JP20180033708
申请日
:
2018-02-27
公开(公告)号
:
JP7116949B2
公开(公告)日
:
2022-08-12
发明(设计)人
:
申请人
:
申请人地址
:
IPC主分类号
:
G01B15/04
IPC分类号
:
G01N22/00
G01S7/41
G01S13/89
代理机构
:
代理人
:
法律状态
:
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
共 50 条
[1]
非接触形状・誘電率測定装置、非接触形状・誘電率測定方法及び非接触形状・誘電率測定プログラム[ja]
[P].
日本专利
:JP7602763B2
,2024-12-19
[2]
誘電率測定方法、誘電率測定装置及び誘電率測定プログラム[ja]
[P].
日本专利
:JP7211538B2
,2023-01-24
[3]
誘電率測定方法、誘電率測定システム、及び誘電率測定プログラム[ja]
[P].
日本专利
:JP7759001B2
,2025-10-23
[4]
誘電率測定装置及び誘電率測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP2025139789A
,2025-09-29
[5]
誘電率測定装置及び誘電率測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP5958098B2
,2016-07-27
[6]
複素誘電率測定装置、複素誘電率測定方法及びプログラム[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2009116301A1
,2011-07-21
[7]
非接触水分率測定装置及び非接触水分率測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2002021106A1
,2004-04-08
[8]
形状測定装置、形状測定方法及び形状測定プログラム[ja]
[P].
日本专利
:JP7318190B2
,2023-08-01
[9]
形状測定装置、形状測定方法及び形状測定プログラム[ja]
[P].
日本专利
:JP5629883B2
,2014-11-26
[10]
形状測定装置、形状測定方法及び形状測定プログラム[ja]
[P].
日本专利
:JP7157547B2
,2022-10-20
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