遺伝的変異の非侵襲的評価のための方法およびプロセス[ja]

被引：0

申请号：

JP20140534806

申请日：

2012-10-05

公开(公告)号：

JP2014534507A

公开(公告)日：

2014-12-18

发明(设计)人：

申请人：

申请人地址：

IPC主分类号：

G16B20/20

IPC分类号：

C12M1/00 C12N15/09 C12Q1/04 C12Q1/68 G16B20/10 G16B30/10 G16B30/20 G16B40/00

代理机构：

代理人：

法律状态：

国省代码：

引用

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共 50 条

[1]

遺伝子変異の評価のための方法およびプロセス[ja] [P].

JOHN A TYNAN ;

AMIN MAZLOOM ;

WU YIJIN ;

MARK WHIDDEN ;

MATHIAS EHRICH .

日本专利 :JP2025087718A ,2025-06-10

[2]

遺伝子の変動の非侵襲的評価のための方法および処理[ja] [P].

日本专利 :JP2023022220A ,2023-02-14

[3]

遺伝子の変動の非侵襲的評価のための方法および処理[ja] [P].

日本专利 :JP2018500876A ,2018-01-18

[4]

遺伝子の変動の非侵襲性評価のための方法および処理[ja] [P].

日本专利 :JP2016526879A ,2016-09-08

[5]

染色体変化の非侵襲性評価のための方法およびプロセス[ja] [P].

日本专利 :JP2016540520A ,2016-12-28

[6]

染色体変化の非侵襲性評価のための方法およびプロセス[ja] [P].

日本专利 :JP6680680B2 ,2020-04-15

[7]

染色体変化の非侵襲性評価のための方法およびプロセス[ja] [P].

日本专利 :JP2022191522A ,2022-12-27

[8]

遺伝子片の評価のための方法およびプロセス[ja] [P].

日本专利 :JP2023018120A ,2023-02-07

[9]

非侵襲性出生前検査のための方法[ja] [P].

日本专利 :JP2024533114A ,2024-09-12

[10]

非侵襲性出生前検査のための方法及びデバイス[ja] [P].

日本专利 :JP2024534899A ,2024-09-26

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