厚み計測方法及び厚み計測装置、並びに欠陥検出方法及び欠陥検出装置[ja]

被引：0

申请号：

JP20200571056

申请日：

2020-01-15

公开(公告)号：

JPWO2020162121A1

公开(公告)日：

2021-11-25

发明(设计)人：

申请人：

申请人地址：

IPC主分类号：

G01B21/08

IPC分类号：

G01B21/30 G01J5/48

代理机构：

代理人：

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法律状态信息

共 50 条

[1]

厚み計測方法及び厚み計測装置、並びに欠陥検出方法及び欠陥検出装置[ja] [P].

日本专利 :JPWO2017130251A1 ,2018-12-13

[2]

偏心量計測方法及び偏心量計測装置[ja] [P].

日本专利 :JPWO2016002272A1 ,2017-04-27

[3]

偏心量計測方法及び偏心量計測装置[ja] [P].

日本专利 :JP5870234B1 ,2016-02-24

[4]

計測方法及び計測システム[ja] [P].

IRIE YASUSUKE ;

INOUE HIROTSUGU ;

KOZAKI KENTO .

日本专利 :JP2024110781A ,2024-08-16

[5]

環境計測システム及び環境計測方法[ja] [P].

日本专利 :JPWO2014083790A1 ,2017-01-05

[6]

３次元形状計測方法及びその装置[ja] [P].

日本专利 :JPWO2006013635A1 ,2008-05-01

[7]

多方向の照明及び関連デバイスによって表面上の欠陥を検出するための方法[ja] [P].

日本专利 :JP2019510981A ,2019-04-18

[8]

３次元形状計測方法およびその装置[ja] [P].

日本专利 :JPWO2008056427A1 ,2010-02-25

[9]

移動体姿勢計測装置及び移動体姿勢計測プログラム[ja] [P].

日本专利 :JP2025167944A ,2025-11-07

[10]

移動体姿勢計測装置及び移動体姿勢計測プログラム[ja] [P].

ODA SHINJI .

日本专利 :JP2025043252A ,2025-03-28

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